Job description

Dans l'industrie microélectronique la miniaturisation des circuits implique une sensibilité de plus en plus grande à la présence de petits défauts.

Dans le contexte du développement et de l'industrialisation de technologies avancées, le site de Crolles 300mm (diamètre des plaques sur lesquelles nous fabriquons nos puces) possède plusieurs équipements de détection et de revue de défauts étant au service du contrôle de la ligne de production. Dans ce cadre il est important de pouvoir identifier la nature des défauts (classification) de façon automatique pour un gain de productivité et de qualité. Le stage est consacré à la classification automatique d'images MEB de défauts au moyen d’intelligence artificielle.

Dans ce contexte, votre mission sera de :

- Comprendre les images de microscopie électronique selon les étapes de fabrication et de technologie.

- Utiliser un système d’intelligence artificiel, qui a pour...